LPDDR接口中串扰和电源噪声引起的振铃和抖动的相关性

    尽管计算机辅助设计(CAD)工具和计算能力不断进步,移动设备的设计周期仍面临挑战。低功耗双倍数据速率(LPDDR)接口尤其复杂,因为它们面向移动设备,而成本、空间和外形因素增加了电源与信号完整性问题的风险。在低层数封装和PCB中,串扰与电源噪声的相互作用以及接口未端接的特性使其设计难度倍增。因此,在选择和制定设计方法时需要进行大量决策和近似处理。随着此类接口设计周期中采用的方法和仿真工具不断发展,这些工具往往被视为理所当然,很少通过实测进行验证。接下来将通过多种复杂度层级的仿真研究,并与完全可运行的移动平台中LPDDR接口32位数据总线的实测结果进行对比,验证了仿真方法的有效性。选择LPDDR接口作为研究对象,因其是系统中较为复杂的部分之一。相关性分析不仅用于验证LPDDR接口设计中所用的仿真方法,还为测试平台的信号与电源完整性行为提供了深入见解。

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芯片电源完整性与信号完整性设计

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